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Viewing illuminators for industrial radiograph
1. 適用範囲 この規格は，X線，γ線などによる放射線透過試験によって得られる透過写真の等級分類な
JIS C 7525 反射形投光電球
JIS C 7527 ハロゲン電球
JIS C 7601 蛍光ランプ（一般照明用）
JIS C 7614 輝度測定方法
JIS Z 2300 非破壊試験用語
JIS Z 8710 温度測定方法通則
ISO 5580 (1985) Non-destructive testing−Industrial radiographic illuminators−Minimum
2. 用語の定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS Z 2300によるほか，次による。
(1) 固定マスク 透過写真の観察において，透過写真からの透過光以外の光を低減するために，遮光紙な
(2) 光輝面 透過写真の観察のため，観察器内部の光源からの光を透過している面。
(3) 観察面 光輝面の全部又は光輝面の一部を固定マスクを用いて制限した透過写真の観察に供する面。
(4) 防げん（眩）装置 透過写真を観察面から取り外したとき，光輝面の輝度を低下させる装置。
3. 種類 観察器の種類は，観察面の中央の輝度によって分類し，表1のとおりとする。
光源 観察器に使用する光源は，JIS C 7601に規定する蛍光ランプ，JIS C 7525に規定する反射形
投光電球，JIS C 7527に規定するハロゲン電球又はこれらと同等以上の性能をもつものとし，蛍光ランプ
輝度試験 観察面中央の輝度を，点灯から20分以上経過後にJIS C 7614に従って測定する。
L5： 観察面と5度以内の垂直方向での輝度 (cd/m2)
L20： 観察面と20度の傾きをもつ方向での輝度 (cd/m2)
L45： 観察面と45度の傾きをもつ方向での輝度 (cd/m2)
ここに， Lmin： 測定した輝度の最小値を含む下位4番目までの平均値 (cd/m2)
Lmax： 測定した輝度の最大値を含む上位4番目までの平均値 (cd/m2)
例1. 観察面が長方形の場合 観察面の分割方法を，図2に示す。
例2. 観察面が円形の場合 観察面の分割方法を，図3に示す。
ら絶縁する。外装と接地間に1 000±10Ωの無誘導抵抗と0.15±0.007 5μFの静電容量を並列に接続し，
(1) 表面温度 気温20℃で，最大15秒間の点灯と消灯を繰り返す間欠点灯を1時間継続し，観察器の表
面温度をJIS Z 8710に従って測定する。
(2) X線フィルムヘの影響 濃度2.0以上のX線フィルムに対して，次の2種類の試験を実施する。
7. 検査 検査は受渡検査及び形式検査とし，6.によって試験を行い，4.の規定に適合したものを合格とす
8. 表示 観察器には，次の事項を表示しなければならない。