Без кейворда
Test methods of low power electromagnetic relays
for industrial control circuits
1. 適用範囲 この規格は，電子機器及び工業用制御回路の主として信号伝送に用いる制御用小形電磁リ
IEC 255-7 (1991) Electrical relays. Part 7 : Test and measurement procedures for electromechanical
2. 用語の定義 この規格で用いる用語の定義は，JIS C 0010及びJIS Z 8115の規格によるほか，次によ
(a) 単安定リレー（シングルステイブルリレー） (Monostable relay) コイルに励磁入力を加えたとき
(b) 双安定リレー（ラッチングリレー） (Bistable relay) コイルに励磁入力を加えたとき動作又は復帰
(c) 有極リレー (Polarized relay) コイルの励磁入力に極性があるリレー。
(d) 無極リレー (Non-polarized relay) コイルの励磁入力に極性がないリレー。
(e) 動作 リレーが復帰状態から動作状態に移行すること。この用語は，単安定リレーにも双安定リレ
(f) 復帰 リレーが動作状態から復帰状態に移行すること。この用語は，単安定リレーにも双安定リレ
(g) 動作状態 すべての常時閉路接点が開き，すべての常時開路接点が閉じ，機械的に安定している状
(h) 保持状態 リレーを動作させた後，コイル電圧又は電流の変動幅内で，いかなる接点も復帰しない
(i) 復帰状態 すべての常時開路接点が開き，及び（又は）すべての常時閉路接点が閉じ，機械的に安
(j) 過渡状態 接点が，開離を始めバウンスを終了して，動作状態又は復帰状態になるまでの状態。
(k) 初期状態 初期無励磁又は復帰したリレーが無励磁になった状態。
(a) 接点 (Contact) 電気回路の接続又は開閉する機能をもつ電気的接点。コンタクトともいう。
(b) コイル リレーを動作状態にし，又は保持状態に維持するための電磁力供給部分。
(c) 接極子 コイルの励磁入力によって接点を駆動する可動磁性片。
(d) コイルサージ抑制部品 (Coil transient suppression device) サージ抑制のためにリレーコイルに接
(e) 極数 一操作で切り換えられる回路切換部の数。
(f) 単投 一つの接触位置でだけ回路を閉成する接点組。
(g) 双投 二つの接触位置をもち，それぞれの接触位置でそれぞれの回路を閉成する接点組。
(h) 常時開路接点 (Make contact) 復帰状態で開路となり，動作状態及び保持状態で閉路となる接点。
(i) 常時閉路接点 (Break contact) 復帰状態で閉路となり，動作状態及び保持状態で開路となる接点。
(j) 切換接点 常時開路接点と常時閉路接点を共に備えた接点構造で，可動接点の導電部が共通の接点。
(a) 動作（感動）電圧 リレーが動作する最小の電圧。
(b) 動作（感動）電流 リレーが動作する最小の電流。
(c) 復帰（開放）電圧 電圧を急激に降下又は徐々に減少させたとき，リレーが復帰する最大の電圧。
(d) 復帰（開放）電流 電流を急激に降下又は徐々に減少させたとき，リレーが復帰する最大の電流。
(e) 動作時間 (Operate time) リレーのコイルに定格の励磁入力を加えた時点から，接点が動作するま
(f) 復帰時間 (Release time) リレーのコイルに定格の励磁入力を取り除いた時点から，接点が復帰す
(g) 切換時間 (Transit time) 閉じる前に開く切換接点の場合は，両方の接点回路が開いている時間。
(h) ブリッジ時間 (Bredging time) 開く前に閉じる切換接点の場合は，一つの接点回路が閉じる瞬間
(i) バウンス (Bounce) リレーの可動部分（接極子）が鉄心やバックストップへ衝突したり，又は接
(j) チャタリング リレーに加わる外部からの衝撃，振動などに起因する接点間の異常な間欠開閉現象。
(k) 開閉現象 接点が開路状態及び閉路状態を交互に繰り返す現象。ここでの開路状態とは，境界抵抗
(l) うなり 交流リレーの場合，磁極間の整合状態によって動作状態及び保持状態での発生する騒音。
(m) 静的接触抵抗 接点が安定に閉じた状態での，接触部の電気抵抗。
(n) 動的接触抵抗 接点の連続開閉中での，接触部の電気抵抗。
(o) 閉路期間 連続開閉中の接点が接触を開始してから開離するまでの期間。
(p) 定格電圧 リレーを通常使用するために，コイルに加わる基準となる電圧。
(q) 定格電流 リレーを通常使用するために，コイルに加わる基準となる電流。
(r) 定格接点電圧 リレーを通常使用する場合，その接点が開閉できる基準となる負荷電圧。
(s) 定格接点電流 リレーを通常使用する場合，その接点が開閉できる基準となる負荷電流。
(t) 定格通電電流 接点を開閉することなしに，温度上昇限度を超えることなく連続して開閉部に通電
(u) 定格絶縁電圧 絶縁設計の基準となる電圧。
(v) 使用率 1時間中の総通電時間の総和の1時間に対する比。パーセント (%) で表す。
参考 括弧の中の英文は，IEC 255-7に用いられている用語である。
(1) 標準状態 試験及び測定は，規定がない限り，JIS C 0010の5.3［測定及び試験のための標準大気条件
(2) 基準状態 基準状態は，JIS C 0010の5.1［標準基準大気条件（基準状態）］での基準状態（温度20℃，
(3) 判定状態 判定状態は，JIS C 0010の5.2［判定測定，及び判定試験のための標準大気条件（判定状態）］
リプル率 脈流の最大電圧 直流電圧（平均値）
装置 装置は，JIS C 1302及びJIS C 1303に規定する絶縁抵抗計又はこれらと同等以上のものとす
250 500 1 000 1 500 2 000 2 500 3 000 4 000 5 000
Rt0： 基準温度t0 (℃) での抵抗値
α： 抵抗の定質量温度係数（軟銅線では0.003 93）
(1) 電圧降下法 図3のとおりとする。交流電源を使用する場合には，その周波数は商用周波数から2kHz
(2) 低電圧・低電流法 図4のとおりとする。交流電源を使用する場合の周波数は(1)と同様とする。
(1) 電圧降下法−静的接触抵抗の場合 試験は，4.5.2(1)に規定の装置によって，接点が常閉状態とした供
(2) 電圧降下法−動的接触抵抗の場合 試験は，(1)に規定の方法で行う。ただし，コイルは，定格電圧の
(3) 低電圧・低電流法−静的接触抵抗の場合 試験は，4.5.2(2)に規定の装置によって，接点が常閉状態と
(4) 低電圧・低電流法−動的接触抵抗の場合 試験は，(3)に規定の方法で行う。ただし，コイルは，定格
(1) 供試リレーの取付け 取付方法を指定されたものを除いて，リレーは，接極子の運動方向が水平方向
(2) 試験の前処理条件 試験を行うリレーの状態は，表7のいずれかの条件とし，各部の温度が一定にな
(1) 試験方法A 単安定リレー（シングルスティブルリレー）に適用し，図5の装置Aによって次のとお
(a) 動作電圧又は電流 電圧又は電流を急激に上昇又は徐々に上昇させ，リレーが動作状態になったと
(b) 復帰電圧又は電流 コイルに定格電圧又は電流を印加した後，電圧又は電流を急激に降下又は徐々
(2) 試験方法B 一巻線双安定リレー（一巻線ラッチングリレー）に適用し，図6の装置Bによって次の
(a) 動作電圧又は電流 S1スイッチを復帰側に閉路し，コイルに定格電圧又は電流を印加してリレーを
(b) 復帰電圧又は電流 S1スイッチを動作側に閉路し，コイルに定格電圧又は電流を印加してリレーを
(3) 試験方法C 二巻線双安定リレー（二巻線ラッチングリレー）に適用し，図7の装置Cによって次の
(a) 動作電圧又は電流 S2スイッチを閉路にし，コイルに定格電圧又は電流を印加してリレーを復帰状
(b) 復帰電圧又は電流 S1スイッチを閉路にし，コイルに定格電圧又は電流を印加してリレーを動作状
(1) 動作時間 すべての常時開路接点を直列に接続し，4.7.2の電源を用いコイルを定格値で励磁して，接
(2) 復帰時間 すべての常時開路接点を並列に接続し，コイルを定格値で励磁しておき，その励磁を急激
個別規格に規定がない限り，接点開離時間10μs未満を除き，接点切換え前後の電圧差 (E2−E1) の90%
4.10.1 目的 この試験は，リレー各部の温度上昇を測定することを目的とする。
4.10.2 装置 この試験に用いる試験装置は，温度計法ではJIS C 1601，JIS C 1603に規定する温度計とし，
4.10.3 準備 準備は，次による。
(1) 周囲温度 試験を行う周囲温度は，15〜35℃に保ち，供試リレーから約1m離れた箇所で，供試リレ
(2) 前処理 試験に先立ち，供試リレーを(1)に規定の周囲温度に，測定結果に疑義が生じないよう十分な
4.10.4 試験 供試リレー各部の温度上昇値は，次の試験によって測定する。
JIS C 3307に規定するもの。 JIS C 3301に規定するもの。 JIS C 3306に規定するもの。
(a) 温度計法 外部から接近できる試験部表面で，温度が最高となるような箇所に，適切な方法で温度
(b) 抵抗法 温度変化によるコイルの抵抗値の変化を，コイルの励磁を取り去った後，直ちに測定して，
R1： 温度t1でのコイルの抵抗値 (Ω)
R2： 温度t2でのコイルの抵抗値 (Ω)
4.10.5 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
耐振性試験（JIS C 0040参照）
(1) 誤動作振動試験 主として，振動によってリレーの接点に発生するチャタリングなどの誤動作の有無
(2) 耐久性振動試験 振動に対するリレーの機構上の耐久性を調べる場合に適用する。
(1) 基本運動 基本運動は，時間の正弦波とし，(2)及び(3)の制約を受けるが，供試リレーの固定点は，す
(2) ひずみ 供試リレーに加える振動の波形は正弦波とし，供試リレーの取付位置での振動波形に含まれ
(3) 振幅の許容差 観測点及び基準点での規定軸方向の実際の振幅は，規定の許容差内にあることとする。
(a) 基準点 基準点の制御信号の許容差は，±15%とする。
(b) 観測点 各観測点での振幅の許容差は，次のとおりとする。
(4) 横運動 供試リレーの取付位置での，目的とする振動方向に対して垂直ないかなる方向に対しても，
(5) 振動数の許容差 振動数の許容差は，次のとおりとする。
(6) 掃引 掃引は連続的に行い，振動数は時間の指数関数的に変化させる。掃引速度は，1オクターブ／
(1) 誤動作振動試験 誤動作振動試験は，個別規格の規定によって表10及び図11に従って行い，試験中
(2) 耐久振動試験 耐久振動試験は，個別規格の規定によって表10及び図11に従って行い，3軸方向の
衝撃試験（JIS C 0041参照）
(1) 誤動作衝撃試験 主として衝撃によって，リレーの接点に発生するチャタリングなどの誤動作の有無
(2) 耐久衝撃試験 落下などの衝撃に対するリレーの機械的耐久力を調べる場合に適用する。
(1) 要求条件 衝撃試験機及び取付けジグに供試リレーを取り付けたとき，観測点に加える衝撃は図12〜
(a) 基本パルスの波形 実際のパルスの真値は，図12に実線で示している許容差内にあること。規定波
(b) 速度変化の許容差 すべての波形の速度変化は，理想パルスの値の±15%以内とする。実際のパル
(c) 横方向の運動 観測点での規定バンブ方向に直角な正又は負のピーク加速度を(2)の測定装置で測
(2) 測定装置 測定装置の特性は，観測点での規定方向の実測パルスの真値が(1)(a)の要求許容差内にある
(1) 最大加速度，持続時間及び速度変化 使用する衝撃パルスの最大加速度，持続時間及び速度変化は表
(2) 方向，回数及び励磁 規定がない限り，供試リレーの欠陥が最も現れやすい方向を含む互いに直交す
端子強度試験（JIS C 0051参照）
(1) 端子の引張試験 端子の引張強度を調べるためのもの。
(2) 端子の押し試験 端子の押し強度を調べるためのもの。
(3) 端子の曲げ試験 端子の曲げ強度を調べるためのもの。
(4) リード線端子のねじり試験 リード線端子のねじり強度を調べるためのもの。
(5) ねじ端子のねじり試験 ねじ端子のねじり強度を調べるためのもの。
(6) フック形端子などのねじり試験 フック形端子などのねじり強度を調べるためのもの。
(7) タブ端子の強度試験 タブ端子の引張り及び押し強度を調べるためのもの。
(1) 端子の引張強度（リード線端子又は板状端子に適用）［JIS C 0051の2.（試験Ua1：引張強さ）参照］
(2) 端子の押し試験（可とう性以外のリード線端子又は板状端子に適用）［JIS C 0051の3.（試験Ua2：押
(3) 端子の曲げ試験［JIS C 0051の4.（試験Ub：曲げ強さ）参照］
(a) 曲げ試験（板状端子に適用） 指で曲げられる板状端子は，図16に示すように，指で45°曲げ，
(b) 曲げ試験（リード線端子に適用） 端子を通常の位置で，その端子の軸が垂直になるように供試リ
ここに，d：リード線径 (mm) 板状端子の場合の断面係数は，次の式によって算出する。
b：く（矩）形断面の他辺の寸法 (mm) Z：断面係数 (mm3)
(4) リード線端子のねじり試験［JIS C 0051の5.（試験Uc：ねじり強さ）参照］ リード線端子は，図
(5) ねじ端子のねじり試験［JIS C 0051の6.（試験Ud：トルク強さ）参照］ 供試リレーを固定し，ねじ
(6) フック形端子などのねじり試験 供試リレーを固定し，図20に示すような固定形端子では，端子軸と
(7) タブ端子の強度試験 供試リレーを固定し，タブ端子の軸に平行に，表18に示す引張力及び（又は）
備考 シリーズの区分はJIS C 2809の規定による。
(8) 最終測定 個別規格の規定による測定を行い，また，外観又は（及び）気密性を調べる。
はんだ付け性試験［JIS C 0050の4.（試験方法Ta : リード線，ラグ端子及び変形端子のはんだ付け
(1) はんだ JIS Z 3282のH60A，H60S又はH63Aとする。
(2) フラックス フラックスは，質量比で25%のロジン（コロホニー）と75%のJIS K 8839に規定の2-
プロパノール又はJIS K 8101に規定のエタノールからなるものとする。
試験 試験は，JIS C 0050の4.4（初期測定），4.5（加速エージング），4.6.3（手順），4.6.4（要求
はんだ耐熱性試験 ［JIS C 0050の5.（試験方法Tb：はんだ耐熱性）参照］
試験 試験は，JIS C 0050の5.3（初期測定），5.4.3（手順），5.5.2（手順），5.7（後処理），5.8（最
耐寒性（耐寒貯蔵，耐寒動作）試験（JIS C 0020参照）
(1) 耐寒貯蔵 供試リレーのコイル及び接点に無通電のまま，個別規格に規定の試験槽内に連続16時間，
耐熱性（耐熱貯蔵，耐熱動作）試験（JIS C 0021参照）
(1) 耐熱貯蔵 供試リレーのコイル及び接点に無通電のまま，個別規格に規定の試験槽内に連続16時間，
(2) 耐熱動作A 供試リレーのコイル及び接点に無通電のまま，個別規格に規定の試験槽内に連続2時間
(3) 耐熱動作B 供試リレーを試験槽に入れ，コイルに定格電圧を印加し，接点には定格接点電流を通電
温度変化試験［JIS C 0025の2.（試験Na：温度急変）参照］
備考 一槽式を用いる場合，JIS C 0025の2.3.1（試験槽）を参照のこと。
(1) 試験温度 低温の温度TA及び高温の温度TBは，それぞれ耐寒性（6.1参照）及び耐熱性（6.2参照）
(2) 放置時間 低温及び高温での放置時間t1は，供試リレーの熱容量を考慮する必要がある。個別規格に
(3) 移し換え時間 供試リレーの低温槽から高温槽への移し換え時間t2は，個別規格に規定の次のいずれ
(4) 試験方法 試験方法は，図21に示すサイクルの構成で，5サイクル，25サイクル，50サイクル及び
備考 破線のカーブは，JIS C 0025の2.3.1.5を参照。
(5) 後処理 後処理は，試験終了後，供試リレーを3.1に規定の標準状態に1時間以上2時間以内に放置
(6) 最終測定 試験の前後において絶縁抵抗，動作時間及び復帰時間，動作電圧（又は電流）及び復帰電
高温高湿（定常）試験（JIS C 0022参照）
(1) 前処理 供試リレーを40±2℃の状態に24時間放置した後，標準状態に達するまで放置する。
(2) 初期測定 動作電圧（又は電流），復帰電圧（又は電流），動作時間，復帰時間，絶縁抵抗，接触抵抗
(3) 試験 供試リレーを6.4.2に規定の装置に，個別規格の規定に基づき(a)に示すいずれかの時間放置す
(a) 試験時間 試験時間は，2日間，4日間，10日間，21日間又は50日間とし，個別規格の規定による。
(b) 電圧印加 直流励磁リレーの電気化学的腐食の耐力試験の場合に限りコイル（正とする。）と鉄心（負
(4) 中間測定 電気化学的腐食の耐力試験の場合に限り，1日目，2日目，3日目及び5日目に供試リレー
(5) 後処理 供試リレーを試験槽から取り出し，水滴をふき取り，標準状態に1〜2時間放置する。
(6) 最終測定 動作電圧（又は電流），復帰電圧（又は電流），動作時間，復帰時間，絶縁抵抗，接触抵抗
方法1（JIS C 0028参照）
(1) 厳しさ 試験の厳しさは，24時間サイクルを10回行う。もし，10回以外の場合には，個別規格にそ
(2) 前処理（図22参照） 規定がない限り，供試リレーを温度55±2℃（相対湿度20%以下）の状態に
(3) 初期測定 個別規格の規定によって外観，電気的性能及び機械的性能を調べる。
(4) 試験方法 供試リレーは，個別規格に規定がない限り，1サイクル24時間の温湿度サイクルを10サ
(4.1) 温湿度サブサイクル 次の事項を温湿度サブサイクルとする。次の条件は，すべてのサイクルに適
用する。各々の24時間のサイクルの最初は，25±2℃，相対湿度 (93±3) %に調節する（図23参照）。
(a) 槽の温度を1.5〜2.5時間のうちに連続的に65±2℃までに上げる。この間，相対湿度を (93±3) %
(b) 槽の温度及び相対湿度をサイクルの開始後5.5時間まで，それぞれ65±2℃，(93±3) %に維持する。
る。この間，相対湿度を (93±3) %とする。
(e) サイクル開始後13.5時間まで65±2℃，相対湿度 (93±3) %を維持する。
(4.2) 低温サブサイクル 第1〜第9サイクルの任意サイクルに適用する（図23参照）。
(a) 温湿度サブサイクルの終了に引き続いて，槽を25±2℃，相対湿度 (93±3) %にして，少なくとも1
(e) 槽の温度は，25±2℃に24時間のサイクルが終了するまで維持する。この期間中の相対湿度は (93
(4.3) 低温サブサイクルを含まない24時間サイクル 第1〜第9サイクルの残りのサイクルに適用する
相対湿度 (93±3) %に24時間サイクルが終了するまで維持する。
(4.4) 最終サイクル 最終サイクルでは，温湿度サブサイクルの終了に引き続いて，試験槽を25±2℃，
相対湿度 (93±3) %に3.5時間維持する。
(5) 電圧印加 この試験では，電圧印加は行わない。巻線の電気化学的腐食の耐力試験は6.4.3(3)で行う。
(6) 最終測定 個別規格の規定によって，次の時点で電気的測定及び機械的点検を行う。
(6.1) 高湿度中で行う測定 測定は，(4.4)で規定する3.5時間のうち，後半の2時間の間に行う。個別規
(6.2) 槽から取り出して直ちに行う測定 最終サイクル終了後，供試リレーを槽から取り出し，標準状態
(6.3) 最終乾燥後に行う測定 最終サイクル終了後，供試リレーを槽から取り出し，24時間標準状態に放
方法2（JIS C 0027の方法2参照）
(1) 厳しさ 試験の厳しさは，上限温度とサイクル数との組合せで定める。厳しさは，次の(a)又は(b)から
(a) 上限温度40℃の場合 サイクル数：2，6，12，21又は56
(b) 上限温度55℃の場合 サイクル数：1，2又は6
(2) 前処理（図24参照） 供試リレーの温度は，次のいずれかによって25±3℃に保ち，供試リレーが温
(3) 初期測定 個別規格の規定によって外観，電気的性能及び機械的性能を調べる。
(a) 温度の上昇 槽内温度を，個別規格に規定する上限温度まで連続的に上昇させる。温度は，図25
(b) 高温の保持 (a)の温度上昇後，12時間±30分まで，上限温度を規定温度±2℃の範囲内に保つ。こ
の間の相対湿度を (93±3) %にするが，初めと最後の15分間は90〜100%にする。
(c) 温度の下降（図25参照） 温度を3〜6時間以内に25±3℃に下げる。この間の相対湿度は，80%
(d) 低温の保持 その後24時間のサイクルの試験が終わるまで，槽内温度を25±3℃，相対湿度を95%
(5) 中間測定 個別規格に，試験中に電気的測定及び（又は）機械的点検をすることを規定してもよい。
(6) 電圧印加 この試験では，電圧印加は行わない。巻線の電気的化学腐食の耐力試験は6.4で行う。
(7) 後処理 後処理は，個別規格の規定に従い，次のいずれかの方法で行う。
(a) 標準状態又はJIS C 0010の5.4（後処理条件）に規定の状態に1〜2時間放置，又は図26に規定す
対湿度を30分間以内に (75±2) %に下げ，その後，槽内温度を30分間以内に試験場所の温度±1℃
6.5.2.5 最終測定 個別規格の規定によって供試リレーの外観を調べ，電気的測定及び機械的点検を行う。
塩水噴霧試験（JIS C 0024参照）
(1) 試験槽 試験槽は，塩水噴霧の腐食力に影響を与えないような材料で作られており，試験槽の詳細な
(2) 噴霧した塩溶液 噴霧した塩溶液は，再使用してはならない。
(1) 塩溶液濃度 試験に使用する塩は，良質の塩化ナトリウム (NaCl) とし，乾燥状態で，不純物は全体
(2) pH値 塩溶液のpH値は，水温20±2℃で，6.5〜7.2とし，試験の間，この範囲に保持する。このた
(1) 試験の厳しさ 試験の厳しさは，塩水噴霧及びその後に続く湿った状態での保存期間の組合せの回数
(2) 厳しさの区分 個別規格には，次の二つの厳しさのいずれか一つを規定する。
(1) 塩水噴霧の条件 噴霧の条件は，供試リレーがさらされるどの空間においても，水平採取面積80cm2
(2) 供試リレーの取付け 供試リレーは，相互に又は他の金属部と接触しないようにし，また，他の供試
(3) 塩水噴霧 供試リレーを試験槽内に置き，温度15〜35℃の塩溶液を2時間噴霧する。
(4) 湿度中の放置 塩水を噴霧した後，供試リレーを6.4.3(1)に規定する湿度槽に移し，個別規格に規定の
(5) 供試リレーの移し換え 供試リレーを噴霧槽に移し換える場合は，供試リレーに付着した塩溶液の減
(6) 1サイクルを構成 (1)の塩水噴霧と(3)の放置とで1サイクルを構成し，個別規格に規定のサイクル数
6.6.10 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
気密性試験（JIS C 0026参照）
(1) 装置 この試験に用いる槽は，供試リレーの封止部の最上端が溶液の表面下10mm以上の深さに浸る
(2) 浸せき液と温度 個別規格に規定がない限り，浸せき液は，フロロカーボンFC-43又はそれと同等の
(3) 試験 供試リレーをその最高使用温度50
(1) 装置 この試験に用いる槽は，供試リレーの封止部の最上端が溶液の表面下10mm以上の深さに浸る
(2) 浸せき液と減圧 浸せき液が油の場合には20℃で25×10−6m2/s動粘度をもつものを使用し，5kPa又
(3) 試験 室温で浸せき液を満たした槽中に供試リレーを入れ，槽を規定の圧力まで下げて，1分間又は
(1) 装置 漏れ検出器は，質量分析形漏れ検出器で公称感度10−6Pa･cm3/sの漏れが検出できるものとする。
(2) 検出用ガス 検出用ガスは，個別規格に規定がある場合を除きヘリウムガスを用いる。
(a) 製造工程中に検出ガスを封入してある場合の試験 質量分析形漏れ検出器の容器内に供試リレーを
(b) 製造工程中に検出ガスを封入していない場合の試験 供試リレーを検出ガスで加圧する。ヘリウム
抗負荷とする。表24及び表25に示す試験電圧 (Em1，Em2) 及び試験電流 (Im1〜Im6) は，表26及
(2) 負荷の接続方法 負荷の接続方法は，図27のとおりとし，個別規格でいずれかを規定する。
(1) コイルの励磁入力 定格電圧及び定格周波数とする。
(2) 試験接点 常時開路接点及び常時閉路接点とする。ただし，単投の場合は，常時開路接点又は常時閉
(3) 試験極 電気的耐久性を求める場合は，2極以下のリレーは全極，3極以上のリレーは，端極を含む連
(4) 開閉頻度 表28のいずれかの開閉頻度とし，いずれを用いるかは個別規格の規定による。
6，30，120，600，1 200，1 800，3 600，6 000，7 200，12 000，18 000，
36 000，45 000，72 000，90 000,，108 000，180 000,，360 000，720 000
(6) 動作回数 表29のいずれかの動作回数とし，いずれを用いるかは個別規格の規定による。
(7) 測定点 初期及び試験の終了後に行うこと。ただし，中間測定は，個別規格に規定がある場合，規定
1，2，3，5，l0，20，30，50，100，200，300，500，1 000，2 000，
3 000，5 000，104，2×104，3×104，5×104，10×104
(1) 試験回路 故障率試験回路は，図28に一例を示す。
(2) 負荷 負荷は，表30のとおりとする。試験電圧及び試験電流の値は，それぞれ表26及び表31から選
(a) コイルの励磁入力 定格電圧，定格周波数とする。
(b) 試験接点 常時開路接点及び常時閉路接点とする。
(c) 開閉頻度 表28のいずれかの開閉頻度とし，個別規格の規定による。
(e) 動作回数 表29のいずれかの動作回数とし，個別規格の規定による。
(2) 連続開閉中及び連続開閉後の試験 試験中毎回の動作及び復帰ごとに試験電流を回路に通じ規定の接
故障率の算出方法 故障率は，信頼水準60%を基準とし，7.2.3の試験結果から，JIS C 5003の附
なお，故障率γ＝0の場合の故障率上限値 (λu) は，次式によって算出する。
故障率水準 故障率水準は，故障率を1 000時間当たり百分率 (%) 又は106総動作回数当たりの故
注(9) 開閉比：閉路時間Ton (s) と開路時間Toff (s) の比
(1) 負荷 8.2の負荷の種類による。
(2) 試験電源 電源は，過渡状態も含む負荷に通電したときのインピーダンス変化に対して，十分耐える
(3) 試験接点 常時回路接点又は常時閉路接点とする。ただし，切換接点の場合には，一方の接点とする。 (4) 試験極 端極を含む連続した極でかつ，全極数の21以上の極とする。
JIS C 0010 環境試験方法−電気・電子−通則
JIS C 0020 環境試験方法−電気・電子−低温（耐寒性）試験方法
JIS C 0021 環境試験方法−電気・電子−高温（耐熱性）試験方法
JIS C 0022 環境試験方法（電気・電子）高温高湿（定常）試験方法
JIS C 0024 環境試験方法（電気・電子）塩水噴霧（サイクル）試験方法
JIS C 0025 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法
JIS C 0026 環境試験方法−電気・電子−封止（気密性）試験方法
JIS C 0027 環境試験方法（電気・電子）温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）試験方法
JIS C 0028 環境試験方法（電気・電子）温湿度組合せ（サイクル）試験方法
JIS C 0040 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
JIS C 0050 環境試験方法（電気・電子）はんだ付け試験方法
JIS C 0051 環境試験方法−電気・電子−端子強度試験方法
JIS C 1302 絶縁抵抗計
JIS C 1303 高絶縁抵抗計
JIS C 1601 指示熱電温度計
JIS C 1603 指示抵抗温度計
JIS C 2809 平形接続端子
JIS C 3301 ゴムコード
JIS C 3306 ビニルコード
JIS C 3307 600Vビニル絶縁電線 (IV)
JIS C 5003 電子部品の故障率試験方法通則
JIS K 8101 エタノール (99.5) （試薬）
JIS K 8839 2−プロパノール（試薬）